STM探针对被测表面作用力的测量

doi:10.3969/j.issn.1000-1093.1999.02.019

兵工学报 ›› 1999, Vol. 20 ›› Issue (2) : 175-178. DOI: 10.3969/j.issn.1000-1093.1999.02.019

实验技术与分析

STM探针对被测表面作用力的测量

{{article.zuoZhe_CN}}

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Measurement of the Force Applied by a Scanning Tunneling Microscope Stylus on the Measured Surface

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{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}. 1999, 20(2): 175-178 https://doi.org/10.3969/j.issn.1000-1093.1999.02.019

{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}. 1999, 20(2): 175-178 https://doi.org/10.3969/j.issn.1000-1093.1999.02.019

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收稿日期	修回日期	出版日期
1998-05-01	1998-03-01	1999-06-30
发布日期
2014-12-25

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