一种利用散斑干涉和灰度等级测量纳米级位移的新方法

主管：中国兵器工业集团有限公司

主编：纪明

ISSN 1002-2082

CN 61-1171/O4

主办：中国兵器工业第二〇五研究所
　　　中国兵工学会

出版：《应用光学》编辑部

《应用光学》创刊于1980年，国内外公开发行，刊号为ISSN 1002-2082, CN-61-1171/O4,是中国兵器工业第二Ο五研究所和中国兵工学会主办的技术类期刊，2006年4月被收录为“中国科技核心期刊”，2008年12月被收录为“中文核心期刊”，是美国《化学文摘》（CA）、《剑桥科学文摘》（CSA）、俄罗斯《文摘杂志》（AJ）、英国《科学文摘》（INSPEC）、《乌利希期刊指南》（UIPD）、荷兰Scopus等国际重要检索机构的收录期刊。

一种利用散斑干涉和灰度等级测量纳米级位移的新方法

李林森;忽满利;贾昉;郝劲波;林巧文;周景会

New method for displacement measurement in nanometer level using speckle interference and gray level

LI Lin-sen;HU Man-li;JIA Fang;HAO Jing-bo;LIN Qiao-wen;ZHOU Jing-hui

应用光学 . 2007, (5): 654 -658 .