基于长短时记忆算法的热应力下半导体器件故障预测模型

doi:10.3969/j.issn.1000-1093.2021.06.017

兵工学报 ›› 2021, Vol. 42 ›› Issue (6) : 1265-1274. DOI: 10.3969/j.issn.1000-1093.2021.06.017

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基于长短时记忆算法的热应力下半导体器件故障预测模型

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LSTM-based Fault Prediction Model of Semiconductor Device under Thermal Stress

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2021-06-30
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