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  • 主管：中国兵器工业集团有限公司

    主编：纪明

    ISSN 1002-2082

    CN 61-1171/O4

  • 主办：中国兵器工业第二〇五研究所
    　　　中国兵工学会

    出版：《应用光学》编辑部

《应用光学》创刊于1980年，国内外公开发行，刊号为ISSN 1002-2082, CN-61-1171/O4,是中国兵器工业第二Ο五研究所和中国兵工学会主办的技术类期刊，2006年4月被收录为“中国科技核心期刊”，2008年12月被收录为“中文核心期刊”，是美国《化学文摘》（CA）、《剑桥科学文摘》（CSA）、俄罗斯《文摘杂志》（AJ）、英国《科学文摘》（INSPEC）、《乌利希期刊指南》（UIPD）、荷兰Scopus等国际重要检索机构的收录期刊。
基于对数坐标二阶微分峰值法的感应热成像内部缺陷识别研究
邢晓军;左宪章;沈思
Subsurface defects recognition using thermography based on second order differential peak method of logarithmic coordinates
Xing Xiaojun;Zuo Xianzhang;Shen Si
应用光学 . 2016, (6): 901 -906 .  DOI: 10.5768/JAO201637.0603005