湿热环境对Ge基中波减反射膜可靠性的影响

doi:10.5768/JAO201536.0105001

应用光学 ›› 2015, Vol. 36 ›› Issue (1) : 93-97. DOI: 10.5768/JAO201536.0105001

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Reliability of Ge-based MW antireflective films in hygrothermal environment

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收稿日期	修回日期	出版日期
2014-05-20	2014-10-16	2015-01-15
发布日期
2015-01-15

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